Udoskonalona metoda analizy SEM/FIB cienkich powłok wielowarstowych

Analiza porowatości materiałów wykonanych w technologii mikrodruku 3D

Prężnie rozwijający się rynek kosmiczny, telekomunikacyjny, półprzewodnikowy oraz elektroniczny wymaga stosowania nowych metod produkcji, tak aby coraz więcej zminiaturyzowanych i wysokowydajnych komponentów zmieściło się na coraz mniejszej przestrzeni. Zastosowanie...
Udoskonalona metoda analizy SEM/FIB cienkich powłok wielowarstowych

Ocena jakości warstw optycznych i pomiar ich grubości

Podstawową rolą powłok optycznych jest uzyskanie zadanego przebiegu charakterystyki  transmisji, emisji lub odbicia, w określonym zakresie spektralnym. Możemy więc podzielić je na: aktywne (np. warstwy stosowane w wyświetlaczach), pasywne. Dobrym przykładem warstwy...
Udoskonalona metoda analizy SEM/FIB cienkich powłok wielowarstowych

Analiza pierwiastkowa EDS

Na naszej stronie rzadko pojawiają się kolorowe zdjęcia. Ostatecznie mikroskop elektronowy różni się przecież od świetlnego. Tym razem jednak chyba zaskoczymy Was ilością barw. Jedna z naszych praktykantek chciała sprawdzić jakość warstwy miedzi, którą pokrywała...