aplikacje
co badamy i produkujemy?
Badania właściwości i struktury materiałów
Skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM) to doskonała technologia, pozwalająca na zobrazowanie powierzchni próbki w skali mikro- i nanometrycznej, osiągając powiększenia do nawet 1 000 000 razy i uwidaczniając jej topografię lub strukturę. Dzięki wykorzystaniu szeregu specjalistycznych detektorów obserwacje dostarczają kompleksowy zestaw informacji, np. rozkład zawartości pierwiastków uzyskany dzięki mikroanalizie składu chemicznego EDS/EDX. Ponadto wykorzystane do badań mikroskopy zbudowane są w konfiguracji mikroskopu dwuwiązkowego, co umożliwia między innymi wykonywanie lokalnych i precyzyjnych przekrojów do kilkuset μm w zależności od materiału przez badane elementy, uwidaczniając ich wewnętrzną mikrostrukturę.
Badania cienkich warstw
Powłoki specjalistyczne odnajdują zastosowanie w wielu branżach, co przekłada się na ich szerokie spektrum złożoności i postaci. Wspólną krytyczną cechą powłok stanowi ich grubość oraz skład chemiczny, które często muszą spełniać rygorystyczne wymagania producentów. Parametry te przekładają się bezpośrednio na jakość i niezawodność wytwarzanych elementów. W przypadku powłok specjalistycznych wykonywanych z metali szlachetnych i półszlachetnych ich grubość musi być ściśle kontrolowana w określonych przedziałach. Oferowany przez Nanores Lab pomiar grubości powłok pozwala na precyzyjne określenie grubości powłoki w określonym przez klienta miejscu. Wysokorozdzielczy tryb obrazowania pozwala na pomiar wielowarstwowych powłok od 10 nm grubości.
Badania baterii litowo-jonowych
W porównaniu z innymi dostępnymi na rynku technologiami akumulatorów, baterie litowo-jonowe są wysoce wydajnymi urządzeniami do przechowywania energii, których rynek stale rośnie. Bezpieczniejsze, mocniejsze, i bardziej ekonomiczne baterie są obecnie wyzwaniem rozwojowym przyszłości. Nanores Lab oferuje szereg narzędzi do identyfikacji i analizy wad, usterek i awarii. Dzięki połączeniu technik analitycznych takich jak tomografia mikrokomputerowa (microCT), skaningowa i transmisyjna mikroskopia elektronowa (SEM i TEM) oraz technologii skupionej wiązki jonów (FIB) naukowcy, inżynierowie i technolodzy mogą uzyskać cenne informacje strukturalne i chemiczne, których potrzebują do ulepszania swoich procesów.
Badania półprzewodników
Przemysł półprzewodnikowy stale rozwija się, a najnowocześniejsze urządzenia półprzewodnikowe są nie tylko coraz mniejsze od swoich prekursorów, ale również bardziej złożone. Z tego powodu wymagają one bardziej wyrafinowanych narzędzi potrzebnych do rozwoju, prototypowania, identyfikacji i kontroli defektów lub wykonywania precyzyjnych i wysokorozdzielczych obserwacji mikroskopowych. Skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM), w połączeniu ze skupioną wiązką jonów (FIB), jest idealną techniką oferującą możliwości analityczne o wysokim poziomie precyzji.
Jeśli zainteresowała Państwa dana aplikacja, zapraszamy na 4-godzinny dzień testów.
Kontrola jakości
Analiza defektów
Nawet małe defekty mogą mieć znaczący wpływ na bezpieczeństwo i funkcjonowanie ostatecznego produktu. Najmniejsze pęknięcie lub zanieczyszczenie może nie tylko obniżyć jakość i trwałość produktu, ale także spowodować katastrofalne awarie. SEM zapewnia powiększenie i głębię ostrości wymagane do dokładnej analizy usterek i identyfikacji awarii. Dostarczają również wielu informacji umożliwiających dokładną charakterystykę uszkodzeń i identyfikację ich pierwotnej przyczyny.
Prototypowanie
Produkcja mikro i nanokomponentów
