Malwina Sikora, Damian Wojcieszak, Aleksandra Chudzyńska, Aneta Zięba
„Improved Methodology of Cross-Sectional SEM Analysis of Thin-Film Multilayers Prepared by Magnetron Sputtering” został opublikowany 31 stycznia 2023 r. Dostęp do publikacji: https://www.mdpi.com/2079-6412/13/2/316
Autorzy z Nanores Lab, Politechniki Wrocławskiej i Polskiej Akademii Nauk opublikowali artykuł będący podsumowaniem dotychczasowych badań przeprowadzonych w ramach doktoratu Malwiny Sikory (o temacie: Opracowanie metod udoskonalonej preparatyki mikroskopowej oraz wizualizacji właściwości cienkich warstw o różnym profilu składu materiałowego). Publikacja powstała pod nadzorem i dzięki mentorstwu dr hab. inż. Damiana Wojcieszaka, Profesora Politechniki Wrocławskiej.
Stwierdzono, że wiarygodne informacje o właściwościach nowoczesnych nanomateriałów, zwłaszcza wielowarstwowych można uzyskać analizując obrazy SEM przełomu próbki oraz przekroju wykonanego za pomocą zogniskowanej jonów (w tym przypadku plazmy ksenonu).
O przekrojowej analizie SEM i innych dostępnych w Nanores metodach badawczych dowiedzieć się więcej można na stronie: metody badawcze.